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可控硅测试夹具使用方法

更新时间:2014-10-21      浏览次数:1645

可控硅测试夹具使用方法
1接线
1.1测器件通态(正向)峰值压降时,主电流引线接于上、下极板铜接线板
上。而压降采样线接于极板边沿的焊片上。
1.2 测器件正、反向峰值阻断电压时,阳、阴极引线接于极板边沿的焊片上。
2 测试压强的计算(推荐被测器件芯片的阴极压强为 100kg/㎝2)
    被测器件施加压强值按下式计算:压强表读数=0.49×d2 (MPa)
式中d为被测器件芯片的阴极直径,单位㎝。(芯片直径小于器件直径,芯片阴极直径比芯片直径还要小4-6mm。计算时必须注意。)
例:被测器件直径52mm,芯片直径为Φ30mm,如按芯片阴极直径比芯片小4mm计算,则芯片阴极直径为30-4=26mm=2.6cm
压强表读数=0.49×2.62 =3.3MPa
3操作方法
3.1将手轮插入下部园孔中,对正凹口反时针旋转泄压阀,下极板自动回原位,再顺时针旋转锁紧泄压阀。
3.2在下极板上放好被测器件,将杠杆插入右侧长孔中千斤顶的加压柄孔中,上下压杠杆加压至规定压力后,通电测试。
3.3测试完毕后,反时针旋转手轮,下极板自动回原位,取出被测器件。

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